▲IEEE43-2000推薦使用者可以使用MIT1020/2來測(cè)試額定超過12KV的電動(dòng)機(jī)的繞組。
▲雙路電源輸入設(shè)計(jì)：可充電電池或主電源輸入。儀器可由220V電源供電，也可以由儀器內(nèi)置可以充電電池供電。這樣有一個(gè)好處就是要測(cè)試的場(chǎng)所不清楚是否有電源或者測(cè)試周期不清楚的時(shí)候，都可以來進(jìn)行測(cè)試。
▲數(shù)字/模擬雙顯示測(cè)試結(jié)果
▲測(cè)試電壓由50V 至10KV 可調(diào)
測(cè)試電壓在50V-1000V 的范圍里以10V（步進(jìn)）微調(diào)，1000V-10000V的范圍里以25V（步進(jìn)）微調(diào)。
▲絕緣電阻測(cè)量測(cè)試范圍擴(kuò)展為35TΩ,用于對(duì)高質(zhì)量絕緣材料的絕緣趨勢(shì)分析等。
▲短路電流：3mA
▲抗干擾：2mA rms
▲全新設(shè)計(jì)的背光LCD顯示屏使操作者在陽光下或者光線很暗的情況下輕松讀出數(shù)據(jù)。
▲絕緣電阻測(cè)試儀顯示的信息：絕緣阻值，實(shí)時(shí)測(cè)試電壓，泄漏電流，等效電容，電池狀態(tài)和時(shí)間常數(shù)。同時(shí)，每次測(cè)試時(shí)LCD上還會(huì)顯示已測(cè)試時(shí)間，這就不需要在測(cè)試時(shí)額外計(jì)時(shí)。
▲絕緣電阻測(cè)試儀內(nèi)置了多個(gè)計(jì)時(shí)器，還具備絕緣測(cè)試設(shè)限告警功能。
▲儀器上還帶有一個(gè)接地端子，使儀器能提高其精確性。
▲儀器的標(biāo)號(hào)分別標(biāo)在儀器的頂部和旁邊，方便儲(chǔ)存或者運(yùn)輸?shù)臅r(shí)候辨認(rèn)。
▲儀器的控制的操作都清楚的寫在儀器隨機(jī)器附帶的說明書里面。
MIT1020/2美國Megger （AVO）絕緣電阻測(cè)試儀MIT1020/2產(chǎn)品功能：
內(nèi)置多種自動(dòng)測(cè)試程序：
▲IR 絕緣電阻測(cè)試、
▲DAR 吸收比測(cè)試 （介電吸收率）、
▲PI 極化指數(shù)測(cè)試、
▲SV 步進(jìn)電壓（跨步電壓）測(cè)試
▲DD 測(cè)試 （介質(zhì)放電））
▲測(cè)試上限擴(kuò)展：35TΩ
▲提供USB與RS232接口下載數(shù)據(jù)
▲儀器內(nèi)置32KB存儲(chǔ)器可保存測(cè)試結(jié)果:存儲(chǔ)測(cè)試電壓，預(yù)設(shè)時(shí)間，泄漏電流，絕緣電阻，極化指數(shù)，DAR，DD，等效電容，時(shí)間常數(shù)。
產(chǎn)品技術(shù)指標(biāo)：
| 電源 | 95-240V，50/60 Hz 60VA |
| 電池使用時(shí)間 | 在 10KV 狀態(tài)下，進(jìn)行4小時(shí)連續(xù)測(cè)試 |
| 測(cè)試電壓（DC） | 1KV-10KV，每 25V 步進(jìn) |
| 精度 | ± 5% 1 TΩ |
| （23°C） | ± 20% 20 TΩ |
| 顯示范圍 | 數(shù)字顯示 10 KΩ 到 35 TΩ |
| 模擬顯示 100 KΩ 到 1 TΩ |
| 短路電流/ | 3mA |
| 充電電流 |
| 電容充電時(shí)間 | ≤5秒/µF @ 3mA |
| 電容放電時(shí)間 | 放電從 10000V 到 |
| 50V ≤250 ms/µF |
| 電容測(cè)量 | 10nF 到 50µF（取決于測(cè)量電壓） |
| 電容測(cè)量精度 | ± 5% ± 5nF |
| （23°C） |
| 電壓輸出精度 | 基本測(cè)試電壓的 +4% @ 1GΩ |
| （0°C-30°C） | ±25V非標(biāo)測(cè)試電壓（<500V） |
| 測(cè)試電流范圍 | 0.01mA to 5mA |
| 測(cè)量電流精度 | ± 5% ± 0.2mA @ 各種電壓量程 |
| （23°C） |
| 抗干擾 | 2mA rms |
| 主計(jì)時(shí)器量程 | 99分鐘59秒 |
| 導(dǎo)線 | 3條測(cè)試導(dǎo)線，帶絕緣夾頭 |
| 內(nèi)存容量 | 32KB |
| 內(nèi)置測(cè)試程序 | 自動(dòng)IR，PI，DAR，DD，SV |
| 數(shù)據(jù)存儲(chǔ) | 存儲(chǔ)測(cè)試電壓，預(yù)設(shè)時(shí)間，泄漏電流，絕緣電阻，極化指數(shù)，DAR，DD，等效電容，時(shí)間常數(shù) |
| 工作溫度 | -10°C-+50°C |
| 儲(chǔ)存溫度 | -25℃- +65℃ |
| 濕度 | 90% RH非凝固@40℃ |
| 保護(hù)等級(jí) | IP65 |
| 安全標(biāo)準(zhǔn) | 符合EN61010- 1：2001 CATIII 300V |
| EMC | 符合EN61326-1：1998 |
| 外形尺寸 | 305mm ×194 mm ×360 mm |
| 重量 | 約7．1公斤 |
| 產(chǎn)品持有證書 | CE |
| 絕緣電阻測(cè)試儀測(cè)試指標(biāo)名詞解釋 | |
| （PI） | 極化指數(shù)測(cè)試 | |
| 極化指數(shù)：在同一次試驗(yàn)中，10min時(shí)的絕緣電阻值與1min時(shí)的絕緣電阻值之比。 | |
| |
| （DAR） | 感應(yīng)吸收比（誘電吸收比）測(cè)試 | |
| 吸收比：在同一次試驗(yàn)中，60s時(shí)的絕緣電阻值與15s時(shí)的絕緣電阻值之比。 | |
| |
| |
| （SV） | 步進(jìn)電壓測(cè)試 | |
| （DD） | 介質(zhì)放電（誘電體放電） | |
| 絕緣電阻,吸收比,極化指數(shù)之間的關(guān)系
當(dāng)說吸收比時(shí)，應(yīng)該說到絕緣電阻極化指數(shù)。
絕緣電阻：在絕緣結(jié)構(gòu)的兩個(gè)電極之間施加的直流電壓值與流經(jīng)該對(duì)電極的泄漏電流值之比。R=U/I，常用單位：（MΩ）兆歐 |
10KV系列絕緣電阻測(cè)試儀選型及功能對(duì)照表
| 產(chǎn)品型號(hào) | MIT1020/2 | S1-1052/2 | S1-1054/2 |
| 絕緣電壓測(cè)試范圍 | | | |
| 50~10,000V（可步進(jìn)調(diào)節(jié)） | ▲ | ▲ | ▲ |
| 絕緣測(cè)試 | | | |
| 絕緣電阻測(cè)試顯示范圍（zui大顯示數(shù)字讀數(shù)） | 35 T Ω | 35 T Ω | 35 T Ω |
| 絕緣電阻測(cè)試顯示范圍（zui小顯示數(shù)字讀數(shù)） | 10 k Ω | 10 k Ω | 10 k Ω |
| 絕緣電阻測(cè)試顯示范圍（zui大顯示模擬讀數(shù)） | 1 T Ω | 1 T Ω | 1 T Ω |
| 絕緣電阻測(cè)試顯示范圍（zui小顯示模擬讀數(shù)） | 100 k Ω | 100 k Ω | 100 k Ω |
| 功能 | | | |
| zui大輸出電流 | 5mA | 5mA | 5mA |
| 短路電流 | 3mA | 5mA | 5mA |
| 抗干擾抑制 | 2mA | 2mA | 4mA |
| 自動(dòng)進(jìn)行試品IR泄漏電流測(cè)試 | ▲ | ▲ | ▲ |
| 自動(dòng)測(cè)量絕緣電阻 | ▲ | ▲ | ▲ |
DAR吸收比測(cè)試（介電吸收率）
| ▲ | ▲ | ▲ |
PI 極化指數(shù)測(cè)試
| ▲ | ▲ | ▲ |
SV 步進(jìn)電壓（跨步電壓）測(cè)試
| ▲ | ▲ | ▲ |
DD 測(cè)試 （介質(zhì)放電）測(cè)量
| ▲ | ▲ | ▲ |
| 內(nèi)置定時(shí)器器 | ▲ | ▲ | ▲ |
| 內(nèi)置32KB存儲(chǔ)器 | ▲ | ▲ | ▲ |
| 顯示 | | | |
| 數(shù)字和模擬雙重顯示 | ▲ | ▲ | ▲ |
| 顯示測(cè)試電壓 | ▲ | ▲ | ▲ |
| 顯示試品充電時(shí)間 | ▲ | ▲ | ▲ |
| 顯示充電電流 | ▲ | ▲ | ▲ |
顯示時(shí)間
| ▲ | ▲ | ▲ |
▲絕緣電阻測(cè)試儀內(nèi)置五種可設(shè)置工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)絕緣測(cè)試程序，可實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)測(cè)試，提供全部分析結(jié)果：
▲絕緣電阻測(cè)試儀外殼由硬塑聚炳烯制造，由于在生產(chǎn)過程中經(jīng)過特殊處理，因此特別堅(jiān)固耐用，而且輕巧便于攜帶，符合IP65標(biāo)準(zhǔn)。
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